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	1.		半导体集成电路的可靠性及评价方法订购中著者: 章晓文恩云飞出版社: 电子工业出版社出版日期: 2015 文献类型: 图书 , 索书号: TN43/027/2016 在馆信息电子资源图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	2.		电子信息技术的理论与应用：中国电子学会第十四届青年学术年会论文集订购中著者: 孔学东恩云飞黄云出版社: 国防工业出版社出版日期: 2009 文献类型: 图书 , 索书号: G202-53/03/2009 在馆信息电子资源图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	3.		电子微组装可靠性设计．基础篇订购中著者: 何小琦恩云飞宋芳芳出版社: 电子工业出版社出版日期: 2020 文献类型: 图书 , 索书号: TN605/029(1)/2020 在馆信息电子资源图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	4.		可靠性物理订购中著者: 恩云飞谢少锋何小琦出版社: 电子工业出版社出版日期: 2015 文献类型: 图书 , 索书号: TB114.2/035/2016 在馆信息电子资源图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	5.		EDS揭秘：静电防护原理和典型应用已借3次. 订购中著者: 沃尔德曼出版社: 机械工业出版社出版日期: 2014 文献类型: 图书 , 索书号: TN430.2/01/2014 在馆信息电子资源图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	6.		电子封装技术与可靠性订购中著者: 阿德比利派克出版社: 化学工业出版社出版日期: 2012 文献类型: 图书 , 索书号: TN405.94/09/2012 在馆信息电子资源图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介

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